《半導體器件間歇工作壽命試驗設備》團體標準征求意見

　　【儀表網 儀表標準】由浙江省質量協會組織，杭州高坤電子科技有限公司主起草的團體標準《半導體器件間歇工作壽命試驗設備》已完成征求意見稿，根據《團體標準管理規定》(國標委聯〔2019〕1 號)、《浙江省質量協會團體標準管理辦法》(試行)的有關規定，現公開征求意見。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《標準化工作導則 第1部分：標準化文件的結構和起草規則》的規定起草。本文件參考GB/T 191 包裝儲運圖示標志；GB/T 4793.1 測量、控制和實驗室用電氣設備的安全要求 第1部分：通用要求；GB/T 5170.2—2017 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備；GB/T 6587—2012 電子測量儀器通用規范；GB/T 9969 工業產品使用說明書總則；GB/T 17626.2 電磁兼容性 試驗和測量技術 靜電放電抗擾度試驗；GB/T 17626.3 電磁兼容性 試驗和測量技術 射頻電磁場輻射抗擾度試驗；GB/T 17626.4 電磁兼容性 試驗和測量技術 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗等規范編制。
 

　　本文件規定了半導體集成電路間歇工作壽命試驗設備的術語和定義、基本參數、技術要求、試驗方法、檢驗規則、標志、使用說明書、包裝、運輸和貯存。本文件適用于Si/SiC二極管、三極管、MOSFET/IGBT等器件的間歇工作壽命試驗設備。
 

　　工作環境：
 

　　壽命試驗設備工作環境應符合下列要求：a)環境溫度：5℃～35℃；b)相對濕度：≤80%RH；c)大氣壓強：86kPa～106kPa；d)電網電壓：AC220V±10%；e)電網頻率：50Hz±8Hz；f)周圍無強磁場干擾和有害氣體侵蝕；g)周圍無強烈振動，無其他熱源直接輻射。
 

　　外觀結構：
 

　　1.設備外殼不得有明顯斑點、劃痕、色斑等缺陷，應無危害安裝、正常使用或維護的尖端或銳邊。2.設備接插件插頭絕緣應無任何破損，并接插穩固。3.設備開關及按鍵應靈活可靠，零部件裝配應牢固，無卡澀、松動現象。4.試驗通道應光滑平整、無變形、損失，箱門應開關靈活，閉合緊密。5.設備整體尺寸應符合設計圖紙要求，尺寸偏差應為±5mm。6.說明性文字、符號、標志應清晰、耐久。
 

　　試驗條件：
 

　　試驗應在下列條件下進行：a)溫度：15℃～35℃；b)濕度：(40～60)%RH；c)大氣壓：86kPa～106kPa；d)電源：標稱交流電源；e)狀態：正常工作狀態。
 

　　型式試驗：
 

　　有下列情況之一，應進行型式檢驗： a) 新產品或老產品轉廠生產的試制定型鑒定時；b) 正式生產后，如結構、材料、工藝等有較大改變，可能影響產品性能時； c) 正常生產，每年應進行一次型式試驗；d)產品長期停產1年后，恢復生產時； e) 出廠檢驗結果與上次型式檢驗有較大差異時。
 

　　型式檢驗樣品應從出廠檢驗合格的產品中隨機抽取2個樣品。型式檢驗全部項目合格應判定型式檢驗合格，若有不合格項時，應對不合格項進行復檢，復檢合格應判定為合格，復檢仍不合格，應判定型式檢驗不合格。