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隨著定位、導(dǎo)航與授時(shí)（PNT）功能成為越來越多產(chǎn)品的必要能力，制造商需要在產(chǎn)品生命周期的各個(gè)階段對(duì)其性能進(jìn)行驗(yàn)證。——為滿足這一日益增長(zhǎng)的需求，思博倫推出了PNTXe——一款以入門級(jí)價(jià)格提供思博倫品質(zhì)
在半導(dǎo)體技術(shù)飛速迭代的當(dāng)下，第三代半導(dǎo)體器件（SiC/GaN）以其出眾的高頻、高效特性，正廣泛應(yīng)用于新能源、電力電子等關(guān)鍵領(lǐng)域。而可靠、高效的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試，是保障器件性能驗(yàn)證、驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)優(yōu)化、產(chǎn)品質(zhì)量把
當(dāng)前功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)面臨半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備依賴進(jìn)口、寬量程參數(shù)測(cè)量精度不足、第三代半導(dǎo)體器件適配性差等核心痛點(diǎn)，尤其在SiC、GaN等寬禁帶半導(dǎo)體器件測(cè)試中，高頻特性捕捉、高壓大電流工況下的精準(zhǔn)測(cè)量成為制約
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