波譜儀

AZtecWave采用全聚焦波譜儀，具有羅蘭圓幾何結(jié)構(gòu)和彎曲晶體

• 更高的峰背比意味著多數(shù)元素的檢測限值通常低于100ppm
• 電動入射狹縫優(yōu)化了每個X射線的分辨率和峰背比
• 對更大能量范圍的線系進(jìn)行優(yōu)化，可使用更高的線系進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析
• 雙計數(shù)器串聯(lián)使用，Ar-CH4優(yōu)化輕元素，Xe用于優(yōu)化高能線系收集
• 傾斜幾何結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)快速分析，可重復(fù)性高及樣品定位更容易
• 光譜儀迷你視圖和模擬圖實(shí)時顯示光譜儀的位置和設(shè)置
• 出色的能量分辨率可解析高密度的X射線譜線，輕松解決各種挑戰(zhàn)性的問題

• • SiKa <2eV
  • FeKa <25eV

羅蘭圓幾何

波譜儀在掃描電鏡上使用了羅蘭圓的幾何設(shè)計。即樣品、衍射晶體和計數(shù)器必須都位于羅蘭圓上。

• 樣品與晶體，計數(shù)器與晶體之間的距離必須相同
• 使用彎曲和研磨后的晶體以獲得高分辨率
• 對于高能量線系的分析，無需嚴(yán)格的光路要求、緩慢的機(jī)械對中或傳輸損耗
• Wave的幾何結(jié)構(gòu)適用所有能量的線系，在掃描電鏡上提供真實(shí)波譜儀能量分辨率

• 對所有能量的X射線線系進(jìn)行優(yōu)化，使其一直可用于分析
• 所有常見重疊元素線系均可區(qū)分，包括過渡金屬K線
• 使用低束流在更短時間內(nèi)獲得盡可能低的檢測限