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日本Pascal公司的(TOFLAS)原子散亂表面分析儀器是應用于表面分析 & 元素分析的。
·表面結構可視覺直觀評估
·*不受電場和磁場影響in-situ 分析
·單一原子層或結晶尺度的成長監測
·薄膜, 超薄膜, 單層薄膜, 石墨烯 …等絕緣, 半導體 & 金屬
·最表面數層非常靈敏
·加熱范圍： ~1000 ℃
·能適應廣泛的基底材料背景
·不適合高氧氣分壓環境
·激光加熱： ~1300 ℃
·*的耐高溫能力
·直徑： φ10mm
·燈絲加熱： ~600 ℃
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