【儀表網 會議報道】 9月23日下午，由我校分析測試中心主辦的“Merlin T4 直接電子探測器技術交流會”在學校將軍路校區JD10樓B237會議室順利舉行。本次會議聚焦于電子顯微領域的前沿探測技術，吸引了30余名師生參與交流。
會議首場報告由Quantum Detectors Ltd.的Matus Krajnak博士帶來，題為《Event- and Frame-based detection with Merlin T4 for Transmission Electron Microscopy》。報告中，Krajnak博士首先系統介紹了相關技術背景，隨后重點講解了Merlin T4所采用的事件驅動采集與超快4D-STEM成像這一革命性技術，闡述了其如何實現極高時間分辨率的數據捕獲。最后，通過基于幀的成像技術對斯格明子(Skyrmions)的動態TEM成像的精彩案例，生動展示了該技術在觀測拓撲磁性粒子等納米尺度動態現象中的強大能力。整場報告層層深入，展現了先進表征技術為材料科學研究開辟的新視野。
第二場報告由上海薈尚儀器有限公司的劉為燕工程師主講，題目為《旋進電子衍射基本原理及其應用》。報告系統闡述了旋進電子衍射技術通過電子束偏離光軸入射樣品，有效減弱動力散射，獲得準運動學強度的衍射花樣，從而實現對納米晶體結構的高精度定量分析。她指出該技術可快速獲取晶體取向、相分布、晶界、應變等多維信息，為材料微觀結構研究提供有力支撐。
南京航空航天大學分析測試中心作為本次會議的承辦單位，一直致力于推動高端顯微分析技術的應用與發展。此次技術交流會不僅為校內外研究人員提供了深入了解前沿探測器技術的平臺，也促進了學術界與產業界的深度合作。未來，類似的技術交流活動將持續舉辦，助力學校電子顯微學及相關研究領域邁向新臺階。
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