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            孔徑測量儀
            
        
            
			
            孔徑測量儀
            
             孔徑測量儀是一種用于信息科學與系統科學、力學、物理學、工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，于2016年11月1日啟用。孔徑測量儀技術指標波長范圍：370nm-1050nm；單次測量時間：一般全波長測量小于10秒；光源：穩定鹵鎢燈；樣品尺寸：≤150毫米；薄膜厚度：0–3000納米；孔隙率測量范圍：0–95%.孔徑大小及分布：0.5–40納米；楊氏模量測量范圍（孔隙率10%以上多料）：1-5GPa。[1]孔徑測量儀主要功能薄膜納米孔徑分析儀GAM-100，是臺在常溫常壓狀態下，對檢測樣品無損害基礎上，表征納米級多孔材料的儀器。無需真空系統的設計使得每個樣品整個吸附、脫附測試可以在幾分鐘內完成。詳情>>          
        
            
    
            
	    
            
        
            
            
            孔徑測量儀價格
            
        
            
        
        
            
    
            
    
            
        
            
            
            孔徑測量儀型號
            
        
            
        
        
            
    
            
    
            
        
            
            
            孔徑測量儀技術文章