便攜式光聲光譜分析儀 SPTr-GAS® 300 Tracer
SPTr-GAS® 300 Tracer 面議
森泉（上海）光電科技有限公司
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| 產地 | 進口 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 適用行業 | 其他 |
TThorlabs 掃描式法布里－珀luo干涉儀
Thorlabs的掃描式法布里-珀羅(FP)干涉儀是一種光譜分析儀，非常適用于檢查連續激光器的細微光譜特性。
Thorlabs 掃描式法布里－珀luo干涉儀
● 分析連續激光器的細微光譜特征
● 光學鍍膜適用于290 nm - 4400 nm
● 自由光譜范圍：1.5或10 GHz
● zui 低 精細度：150、200或1500
● 在廠校準精細度
● 超穩定無熱Invar®腔
● SMA或BNC耦合，用于連接示波器
● SA201控制器(單獨出售)提供三角形或鋸齒形掃描電壓，用于壓電傳感器
● 可以定制適用于紫外到中紅外的反射鏡鍍膜
每個法布里-珀luo干涉儀都有一個熱穩定Invar®腔。
Thorlabs的掃描式法布里-珀羅(FP)干涉儀是一種光譜分析儀，非常適用于檢查連續激光器的細微光譜特性。我們提供自由光譜范圍(FSR)為1.5 GHz或10 GHz的干涉儀。干涉儀的分辨率會隨著FSR和精細度的變化而變化，范圍從小于1 MHz到67 MHz。
FP腔只能透過特定頻率的光。利用壓電傳感器調節腔的長度，可以調諧透過頻率，如右圖所示。透射光強度通過光電二極管測量，經SA201控制器中的跨阻放大器(或等效放大器)放大，然后由示波器顯示或數據采集卡記錄。每個法布里-珀luo干涉儀都有一根帶BNC接頭的電纜，用于控制壓電部件。（共聚焦法布里-珀luo干涉儀的示意圖）
SA30-144、SA200-18C和SA210-18C中的反射鏡由紅外級熔融石英(Infrasil®)制成，SA200-30C中的反射鏡由釔鋁石榴石(YAG)制成，其他型號的反射鏡由紫外熔融石英制成。內部殼體由熱穩定的殷剛制成，以消除由溫度變化產生的偏移。
Thorlabs 掃描式法布里－珀luo干涉儀
SA200和SA30型號的背面有SM1(1.035"-40)螺紋，用于安裝探測器，而SA201型號有SM05(0.535"-40)螺紋。除SA200-30C之外，每個掃描式法布里-珀luo干涉儀附帶一個光電二極管探測器和一根SMA-BNC電線，用于連接探測器和放大器。光電二極管可以拆下，以便對準或換成其他探測器。
對準
FP干涉儀腔體的共焦(SA200/SA210系列)或近似共焦(SA30系列)設計便于對準入射光。通過將干涉儀安裝在標準的調整架上，遵照對準指南標簽中的步驟，就可以將FP干涉儀的光軸準確對準入射光束。右邊給出了我們的SA200 FP干涉儀安裝在KS2光學調整架中的實例。
對于采用近似共焦設計的SA30系列，需要額外的步驟來確保干涉儀正確對準。系統需要在觀察透過模式的同時進行精調，以抑制高階模式。
控制器
SA201控制器(單獨出售)產生重復掃描FP腔長所需的鋸齒波或三角波電壓，以掃過干涉儀的一個自由頻譜區(FSR)。SA201控制器也包含跨阻放大器，用于放大FP干涉儀中光電二極管探測器的輸出；這個探測器測量透過FP腔的光強。控制器也會給示波器提供觸發信號，便于在掃描開始或中途觸發示波器。通過觀察給定光譜被一個FSR分開的兩個光譜特性，可精確校準示波器的時間軸。
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