2026/03/12
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主要用途廣泛，是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具。它主要用于快速暴露電子元器件（如IC芯片、PCB、連接器）和材料在惡劣環境下的潛在缺陷，如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等，從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐
非飽和高壓加速試驗箱（HAST）是進行高加速應力測試的關鍵設備，通過模擬高溫、高壓及非飽和濕度環境，快速評估產品的可靠性。是半導體、汽車電子、航空航天及消費電子等領域的測試工具，主要用于快速暴露電子元器件（如IC芯片、PCB、連接器）和材料在惡劣環境下的潛在缺陷，如封裝密封性失效、引腳腐蝕、材料老化等，從而為產品可靠性提升和壽命評估提供有力支撐，它能將傳統方法長達數千小時的濕熱老化測試周期縮短至數百小時，顯著提升研發與質檢效率
詳細技術規格
項目 | 規格參數 | 備注 |
溫度范圍 | +105℃ ~ +155℃（可選） | 常用測試溫度為110℃, 130℃, 145℃ |
濕度范圍 | 50% ~ 95% RH（非飽和，可調） | 部分型號支持65%-100%RH，可設定飽和模式 |
壓力范圍 | 0.02 MPa ~ 0.6 MPa（表壓） | 約合0.2至6kg/cm2，滿足不同標準要求 |
控制精度 | 溫度: ±0.5℃; 濕度: ±2.5% ~ ±3% RH | 確保測試條件的穩定性和復現性 |
工作室容積 | 標準50L, 100L, 200L（可定制） | 滿足從研發樣品到批量抽檢的不同需求 |
控制系統 | 彩色觸摸屏PLC控制器 | 支持程序編輯、多段設定、實時曲線顯示、數據存儲與USB導出 |
控制模式 | 干濕球/非飽和蒸汽/飽和蒸汽三種模式 | 適配不同測試標準，靈活切換 |
安全裝置 | 超溫超壓保護、安全閥、泄壓裝置、缺水保護、漏電斷路器等 | 符合國家壓力容器安全規范 |
材質 | 內箱：SUS316不銹鋼；外箱：鋼板噴塑 | 耐腐蝕，確保長期使用壽命 |
支持的可靠測試標準
我們的設備設計與制造嚴格遵循國際及國內主流可靠性測試標準，確保您的測試數據在地球范圍內獲得認可：
IEC：IEC 60068-2-66 (試驗Cx), IEC 60749
JEDEC：JESD22-A110 (HAST), JESD22-A118 (無偏壓HAST/UHAST), JESD22-A102 (PCT)
國標：GB/T 2423.40
汽車電子：AEC-Q100/Q101
行業評價方法：支持如《復雜組件封裝關鍵結構壽命評價方法》（T/CIE 143-2022）等標準中提及的加速壽命試驗要求。
