余春梅
目錄:廣東皓天檢測儀器有限公司>>快速溫變試驗(yàn)箱>>線性快速溫變試驗(yàn)箱>> TEC-408PF用于芯片測試的線性快速溫變試驗(yàn)箱
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 適用領(lǐng)域 | 化工 | 溫度范圍 | -70°C~+150°C |
| 升溫時間 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 | 降溫時間 | 非線性升溫速率( 5°C/10°C/15°C/20°C/25°C |
| 內(nèi)體材料 | 不銹鋼板(SUS304CP種, | 制冷方式 | 機(jī)械式雙級壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器 |
本產(chǎn)品是專為半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)等高精電子元件設(shè)計(jì)的可靠性測試設(shè)備。它通過精密控制的制冷與加熱系統(tǒng),在測試腔內(nèi)實(shí)現(xiàn)精確、線性的溫度變化速率,模擬溫度環(huán)境或溫度循環(huán)應(yīng)力,從而加速暴露芯片材料、封裝工藝及焊接點(diǎn)存在的潛在缺陷,是提升芯片產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵工具。
主要用于對各類芯片(如CPU、GPU、存儲芯片、車載芯片、芯片等)進(jìn)行:
溫度循環(huán)測試: 檢驗(yàn)芯片在反復(fù)溫度變化下的疲勞耐久性。
高低溫篩選: 剔除早期失效產(chǎn)品,提高出廠良品率。
特性測試: 評估芯片在不同溫度條件下的電氣性能和工作參數(shù)。
失效分析: 復(fù)現(xiàn)芯片在特定溫度條件下的故障模式。
溫變速率: 可實(shí)現(xiàn)高可達(dá)15°C/min及以上的線性快速溫變,大幅縮短測試周期,提高效率。
精準(zhǔn)的溫度控制: 采用進(jìn)口PID智能算法,確保溫度偏差小(如±0.5°C),溫度均勻性優(yōu)異(如±2.0°C),保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與重復(fù)性。
優(yōu)異的穩(wěn)定性: 長期運(yùn)行,保證芯片測試,尤其是長時間可靠性試驗(yàn)的連續(xù)性。
強(qiáng)大的軟件功能: 配備10.4英寸觸摸屏,支持編程運(yùn)行,可設(shè)置多段復(fù)雜溫度曲線,并具備歷史數(shù)據(jù)記錄、遠(yuǎn)程監(jiān)控和USB導(dǎo)出功能。
可靠的保護(hù)系統(tǒng): 具備多重安全保護(hù)(超溫、過流、缺相、缺水等),確保設(shè)備和昂貴芯片樣品的安全。
溫度范圍: -70°C ~ +150°C(可擴(kuò)展)
線性溫變速率: 5°C/min ~ 15°C/min (可按需定制)
溫度偏差: ≤ ±0.5°C
溫度均勻度: ≤ ±2.0°C (空載)
內(nèi)箱材質(zhì): 304不銹鋼,確保潔凈耐用
控制器: 彩色觸摸屏PID程序控制器
制冷方式: 二元復(fù)疊式風(fēng)冷/水冷制冷系統(tǒng)
安全保護(hù): 獨(dú)立超溫保護(hù)、壓縮機(jī)過熱/過流/超壓保護(hù)、風(fēng)機(jī)過熱保護(hù)、缺相保護(hù)等
半導(dǎo)體行業(yè): 集成電路設(shè)計(jì)、制造與封裝測試企業(yè)。
汽車電子: 車載芯片、ECU控制單元、傳感器供應(yīng)商。
通信行業(yè): 5G基站芯片、光通信模塊、交換機(jī)芯片測試。
航空航天: 高可靠性、寬溫域要求的芯片篩選。
科研院所: 高校及研究機(jī)構(gòu)進(jìn)行電子材料與元器件的可靠性研究。
樣品擺放: 待測芯片應(yīng)合理放置在樣品架上,確保腔內(nèi)空氣循環(huán)暢通,避免阻擋出風(fēng)口,影響溫場均勻性。
負(fù)載限制: 測試時總負(fù)載(芯片+治具)應(yīng)在設(shè)備允許范圍內(nèi),過大的熱容量會顯著降低實(shí)際溫變速率。
定期維護(hù): 需定期清潔過濾器、檢查制冷系統(tǒng)冷凝器是否臟堵,確保設(shè)備長期處于性能狀態(tài)。
專業(yè)操作: 應(yīng)由培訓(xùn)合格的專業(yè)人員操作,嚴(yán)格按照操作規(guī)程進(jìn)行,避免誤操作導(dǎo)致設(shè)備或樣品損壞。
環(huán)境要求: 設(shè)備應(yīng)安置在通風(fēng)良好、無塵、遠(yuǎn)離熱源的環(huán)境中,保證其散熱效果。





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