從當下主流的機械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質的重要手段。相較于電學霍爾測量和震動磁強計，光磁克爾效應具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進行加工或切片等操作的特點。通過對磁滯回線的分析，用戶不但可以得到矯頑力及相對磁化強度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向異性等性質。針對不同矯頑力的多層磁性薄膜結構，磁光克爾測量可以分析出逐層的磁滯回線信息。

上海屹持光電提供的磁滯回線測量儀標準系統按照性能優先，穩定性優先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業生產中各種磁性薄膜材料的測試需求。針對不同磁各向異性材料的光學響應，我們提供兩種測試組件：PMA Checker 以及 IMA Looper，兩種系統共享一套數據采集系統，切換方便。“控制盒+光磁主體+電腦"的套裝（如上圖所示）即是完整的設備，無需任何外置儀表（電源，鎖相放大器）客戶即可快速完成磁滯回線的測量；此外，客戶可以自主選擇使用鎖相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）進行數據采集，該設備預留了與鎖相放大器匹配的接口。

該磁滯回線測量儀產品提供基于 LabView的程序，方便客戶快速上手。基于 C，Python的控制程序也可應客戶要求提供。

磁光克爾效應磁滯回線測量儀 應用案例

? 自旋/磁電子學
? 磁性納米技術
? 非易失性磁性隨機存儲器
? 磁阻研究
? 磁性薄膜

? 磁性傳感器

右圖測試樣品結構（Si 襯底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3) （厚度為納米，X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf ）

技術參數

主要功能	垂直膜磁滯回線測量
測試模式	磁光克爾效應-反射式
光磁主體構成	半導體激光+起偏器+檢偏器+探測器+探測器放大電路+電源管理電路+樣品托+霍爾傳感器（可選）+電磁鐵
克爾角分辨率	0.001°
磁場強度1	±3600 Oe
設備控制盒構成	數據采集模組+電磁鐵電源+系統供電模組
供電輸入（控制盒）	220 VAC 50 Hz
數據采集（控制盒內）	16位精度，50kS/s
電磁鐵電源（控制盒內）	（控制盒內）90瓦
尺寸（光磁主體）2	60 毫米× 80毫米 × 160毫米
尺寸（控制盒）2	251 毫米× 60毫米 × 38毫米