晶體電光效應實驗儀庫號：M383945實驗內容：
觀察會聚偏振光激光LiNbO3晶體后形成的干涉圖形，
比較不同電壓下的差異，理解單軸與雙軸晶體的區別；
觀察測量不同電壓條件下的輸出光的偏振態；
理解Pockels效應的工作機理，測量半波電壓，確定△n與E的線性關系，繪出調制曲線；
用外加電信號對晶體進行調制，實驗電信號的光傳輸；
理解工作點對調制、傳輸過程的影響。
晶體電光效應實驗儀庫號：M383945
實驗內容：
觀察會聚偏振光激光LiNbO3晶體后形成的干涉圖形，
比較不同電壓下的差異，理解單軸與雙軸晶體的區別；
觀察測量不同電壓條件下的輸出光的偏振態；
理解Pockels效應的工作機理，測量半波電壓，確定△n與E的線性關系，繪出調制曲線；
用外加電信號對晶體進行調制，實驗電信號的光傳輸；
理解工作點對調制、傳輸過程的影響。
儀器特點：采用半導體激光器（650nm，4mW）作為光源，使得實驗操作靈活、簡單；可觀察在電場作用下LN晶體由一個單軸晶體變化為雙軸晶體的過程，干涉圖樣完*整、清*晰。
儀器參數：
光學實驗導軌800mm，半導體激光器650nm 4mW；激光功率計數字表頭，量程分別為200Μw、2mW、20mW、200mW和可調檔；晶體的通光面積為5*5mm；驅動電壓Vmax≥1600V。
實驗內容：
觀察會聚偏振光激光LiNbO3晶體后形成的干涉圖形，
比較不同電壓下的差異，理解單軸與雙軸晶體的區別；
觀察測量不同電壓條件下的輸出光的偏振態；
理解Pockels效應的工作機理，測量半波電壓，確定△n與E的線性關系，繪出調制曲線；
用外加電信號對晶體進行調制，實驗電信號的光傳輸；
理解工作點對調制、傳輸過程的影響。
儀器特點：采用半導體激光器（650nm，4mW）作為光源，使得實驗操作靈活、簡單；可觀察在電場作用下LN晶體由一個單軸晶體變化為雙軸晶體的過程，干涉圖樣完*整、清*晰。
儀器參數：
光學實驗導軌800mm，半導體激光器650nm 4mW；激光功率計數字表頭，量程分別為200Μw、2mW、20mW、200mW和可調檔；晶體的通光面積為5*5mm；驅動電壓Vmax≥1600V。
晶體電光效應實驗儀庫號：M383945
