ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國密蘇里州羅拉創立。ESDEMC 開發 ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創新、先進、高質量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測試服務和定制項目。產品包括充電設備模型 (CDM) 系統、電纜放電事件 (CDE) 系統、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設計。ESDEMC Technology 自 2012 年以來一直是 ESD 協會的企業會員。
ES650自動化探針系統是一種2針探測解決方案，適用于封裝級、晶圓級和電路板級器件上的HBM、MM、TLP、HMM、CC-TLP、LI-CCDM、RP-CCDM和CDM（JS-002）測量的自動化探針臺。除ESD測試解決方案外，ES650還可單獨用于其自動化探測功能，使以下探針應用達到精確自動化：射頻測量、I-V曲線跟蹤和許多其他需要精確探測的應用。探測系統使用兩個獨立控制的（左和右）XYZ機架，帶有探針，用于接觸芯片或晶圓上的引腳或焊盤。ES650不需要插座PCB，與基于繼電器的解決方案相比，寄生效應更少。此外，該系統還支持多器件測試，可實現多器件自動分類的測試中故障檢查和停止判斷標準。
探針測試是器件測試中非常耗時的一部分，尤其是對于采用HBM的高引腳數器件，大多數引腳都需要通過所有可能的2引腳組合進行測試。全自動測試系統可以大大提高測試效率，減少時間和測量誤差。
除HBM脈沖模塊外，ES650還提供用于其他脈沖測試的模塊，如MM和HMM，以及CDM類型的解決方案，如FICDM、LI-CCDM、CC-TLP和RP-CCDM（一種正在申請的基于接觸式第一繼電器的CDM方法）。該系統還能為TLP、EOS、射頻探測等其他測試方法提供機械測量。
產品特點
● 通過每個探針臂上的高分辨率攝像頭可輕松實現針腳對準
● 高精度運行控制系統（最小精度1微米）
● 批量器件測試
● 漏電探測
● 自動防撞
● 測試時可通過攝像頭觀察探針接觸情況
● 可定制測試尺寸，適合所有類型的器件測試要求
● 電流探頭采用近DUT設計
● 設備配套程序
● HBM測試模塊
● 數據分析
產品應用
● 全自動2針探測系統
● S測試多種流行的ESD標準和方法，具有泄露測試功能：
√ ANSI/ESDA/JEDECJS-001-2017 (HBM)
√ ANSI/ESDASTM5.2-2019 (MM)
√ ANSI/ESDASP5.6-2009 (HMM)
√ ANSI/ESDASTM5.5.1-2016 (TLP)
√ ANSI/ESDA/JEDECJS-002-2018 (FICDM)
√ CC-TLP (ESDA SP 待定,需要VF-TLP)
√ ANSI/ESDSP5.3.3-2018 (LI-CCDM, 需要 VF-TLP)
√ RP-CCDM測試（申請中）
√ 可以按需定制
ES650自動化探針系統產品規格
| 型號 | ES650-150 | ES650-300 | 單位 | 備注 |
| XY測試范圍 | ≥ 150X150 | ≥ 300X300 | mm | 探針臂測試范圍 |
| Z軸行程 | ≥ 50 | mm | ||
| X，Y，Z步長 | 1 | μm | ||
| 重定位精度 | ≤ ±6 | μm | ||
| 測試電壓范圍 | ±1 to 2000 or 12000 | V | 可定制 | |
| 測試電壓步長 | 1 | V | ||
| 測試電壓精度 | ± 1%±0.1V | % V | ||
| XY分辨率 | 1920 X 1080 | 像素 | 支持縮放與移動 | |
| 主攝像頭分辨率 | 2592 X 1944 | 像素 | 支持縮放與移動 | |
| 工作溫度 | 10 to 40 | （°C） | ||
| 工作濕度 | 10 to 80 | % | ||
| 供電 | 120-240 VAC, 50/60 Hz | VAC | ||
上海正衡電子科技有限公司shzhtech是一家集儀器儀表的代理銷售，測試方案的提供，售前售后的技術支持與儀器儀表的維修為一體的多元化公司。致力于為相關領域的客戶提供專業的完整測試解決方案，技術培訓，維修服務。
